高溫老化房廣泛應用于汽車、通訊、電力、電源電子、電腦、航天航空、生物制藥等領域。是針對于高性能電子產品，金融設施、防雷設施、車載系統(tǒng)、定位系統(tǒng)等(如：計算機整機，顯示器，終端機，電源供應器，主機板、監(jiān)視器、程控交換機、ATM(柜員機)、停車咪表、DVD、GPS、精密設備控制器、航空航天設備、產品等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境的測試設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備是各生產企業(yè)提高產品質量和競爭性的重要生產流程。

湖南顯示屏高溫老化房結構特點： 

1.老化房為方便試品進出工作室，采用落地式箱體結構。落地式庫板拼裝結構，可以減少設備后期的搬遷，擴張導致的浪費。

2.高溫老化房組成：加熱、風道循環(huán)、照明、排風、控制柜等部分組成。

3.采用高性能的不銹鋼板，耐火級別高，安全環(huán)保，高效保溫，大大降低設備的能損，同時達到節(jié)能的功效。保溫厚度75mm。

4.保溫庫板采用0.5mm庫板、頂部拉桿吊頂、鋁合金加固，確保保溫庫板在85℃溫度情況下不變形、不燃燒。

5.控制系統(tǒng)中關鍵元器件均采用進口產品，相對而言，更保證性能穩(wěn)定可靠。

6.安全的輸出保護電器，保護試件和試驗系統(tǒng)的安全，完善的保護措施，系統(tǒng)安全可靠。

7.人性化的軟件操作界面，易學易用。

8.房體大門：采用門結構，充分考慮樣品車進出方便，防反鎖，確保從里面能順利開啟。試驗箱的大門密封采用硅橡膠條，耐高溫，抗老化，密封性能良好。

9.房體觀察窗：按要求訂制，為便于觀察箱內試品的情況，觀察窗材料均為多層鋼化玻璃構成的中空電阻膜加熱防霜玻璃，與業(yè)界傳統(tǒng)的普通玻璃相比，多層鋼化玻璃不僅堅實安全，同時可以防止表面起霧，隨時保持清晰的觀測箱內的狀況。

10.照明裝置：老化房內設置有4盞40W／220V防潮、防爆照明燈，防護等級滿足IP65，防爆等級符合GB3836-2000《爆炸性氣體環(huán)境用電氣設備》標準。可手動直接開關控制，避開箱體中部樣品區(qū)。

湖南顯示屏高溫老化房主要技術參數(shù)：

1、產品型號：GT-BIR-35A，外形尺寸約約3500mm*1400mm*2350mm（寬*深*高）

2、溫度范圍：25℃~35℃可調（80℃~150℃為定制款）

3、溫度波動：±0.5℃；

4、溫度偏差：大精度±2℃(可根據(jù)客戶要求設計精度)

5、運行方式：溫度可調，恒定運行或程序運行(可選觸摸屏式程序運行)

6、安裝電源：AC~380V；50 Hz；1.7 噪音大?。酣Q75分貝

7、解析精度/分布均勻度：0.1℃/±2.5℃

8、控制精度：±0.5℃

9、升溫速率：約3.0℃/分鐘

10、結構材質：拆裝組合事庫板：不銹鋼鋼板噴塑

11、保護裝置：無熔絲開關、超溫保護開關、陶瓷保險絲

12、以上技術參數(shù)在室溫20℃，無負荷條件下測得的數(shù)據(jù)。

老化房構設計簡介：

1、老化房結構分底部鋼架承重結構、庫板保溫材料、風道換氣結構和電器主控系統(tǒng)等。

2、為達到承重效果，設備底部鋼架采用工字鋼和槽鋼作為龍骨支撐底板，呈網(wǎng)格狀鋪設，全部焊接牢固，可承受（10t）試件的重量，底部鋼架結構用預埋件固定。

3、設備采用加工設備加工成型，殼體表面噴塑，美觀平整。配色協(xié)調，線條流暢自然。

4、室內配件采用不銹鋼型材，設計合理，經(jīng)久耐用。在設備各方面性能穩(wěn)定的基礎上，更加實用，易于控制。此外，該設備具有安裝方便、操作簡單。

電路控制系統(tǒng)

1、采用數(shù)顯溫控儀表

2、按鍵式操作或觸摸式操作，方便快捷，高亮度數(shù)碼管顯示，清晰

3、時間繼電器，可設定需運行時間，時間到自動停止

4、溫度斜率的設定，可自由的控制運行時間及升降溫速率

5、溫度控制均采用PID+SSR，系統(tǒng)同步協(xié)調控制，可提高控制組件與界面使用之穩(wěn)定性及壽命

6、控制模式PID自動演算（比例-積分-微分），PID控制簡單易懂，使用中不需系統(tǒng)模型等先決條件

本設備參照國家環(huán)境試驗設備技術規(guī)范精工制造，有效模擬高溫、低溫等氣候環(huán)境對產品的適應性試驗。具體參照標準和國家環(huán)境試驗方法標準如下：

1、GB/T2423.1-2008 （電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗A：低溫試驗方法）

2、GB/T2423.2-2008 （電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法）

3、GB/T 11158-2008 《高溫試驗室技術條件》

4、GB/T 5170.2-2008 《電工電子產品環(huán)境試驗設備 基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備》